產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導體材料測試霍爾電阻遷移率LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導體材料和器件結(jié)構(gòu)進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
快速，非破壞
霍爾遷移率
方塊電阻
提高測試的重復性
與VDP法測試保持一致
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)
上一個：
返回列表