LST體微缺陷測試設(shè)備

產(chǎn)品簡介
LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。

Name: LST體微缺陷測試設(shè)備
Brand: 波銘科儀
Price: 面議 CNY
Availability: InStock

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-12-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：1662

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

一文講述熱油試驗機的產(chǎn)品功能

太陽光模擬器的光譜調(diào)節(jié)與能量輸出管理

顯微熒光光譜儀能夠探測極微弱的熒光信號

關(guān)于光電探測器的原理特性介紹

詳細介紹在線留言

Capability:

物鏡自動調(diào)節(jié)
納米級移動
對缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm^–³

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)